Spektrofotomita ya NIR ya LB-820 UV-Vis

Vipengele vya ala

Ubunifu wa mfumo wa macho wa miale miwili hupunguza mwingiliano wa mandharinyuma na huboresha usahihi wa jaribio.

Sehemu za kipokezi cha kifaa vyote ni vifaa vilivyoagizwa kutoka nje, ambavyo vinahakikisha utendaji wa hali ya juu na uthabiti wa kifaa.

Udhibiti wa kifaa (kama vile ubadilishaji wa wavu, ubadilishaji wa kichujio, ubadilishaji wa kipokeaji, uchanganuzi wa urefu wa wimbi, n.k.) vyote vinadhibitiwa na kompyuta, na kiolesura ni USB2.0. Muunganisho wa kifaa ni rahisi, jambo ambalo huboresha sana kasi ya mawasiliano.

Programu ya mfumo wa majaribio ya macho iliyojumuishwa inaweza kuchaguliwa ili kugundua kiotomatiki upitishaji wa mwanga unaoonekana, upitishaji wa jua moja kwa moja, uakisi wa jua moja kwa moja na vigezo vingine vinavyohusiana vya kioo cha jengo.

Usambazaji kamili wa nishati ya jua na mgawo wa kinga wa vipengele mbalimbali vya kioo cha dirisha hadi kwenye joto la mionzi ya jua vinaweza kupatikana kwa kushirikiana na kigunduzi cha utoaji wa hewa cha hemispherical cha kioo.

Vifaa maalum vya majaribio ya sampuli vinaweza kuchaguliwa.

Programu huweka kitendakazi cha kuingiza, ambacho kinaweza kuingiza data katika umbizo la maandishi.

Kipimo cha data ya sampuli kwa wakati halisi, data ya matokeo ya jaribio inaweza kusafirishwa nje.

Programu inaweza kuendeshwa chini ya mifumo ya WinXP na win7.

Vigezo vya vipimo

1. Chanzo cha mwanga: taa ya deuterium iliyoagizwa kutoka nje, taa ya bromidi ya tungsten

2. Masafa ya urefu wa mawimbi (nm): 190-3200nm

3. Usahihi wa urefu wa mawimbi (nm): ± 0.5 (UV / VIS); ± 4 (NIR)

4. Urejeleaji wa urefu wa mawimbi (nm): ≤ 0.3 (UV / VIS); ≤ 2 (NIR)

5. Kipimo cha data (nm): 0.2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Usahihi wa upitishaji (% t): ± 0.3

7. Urejeshaji upya wa mvuto maalum wa upitishaji (% t): ≤ 0.2

8. Mwanga uliopotea (% t): ≤ 0.2% t (220nm, NAI)

9. Hali ya kufanya kazi: upitishaji, unyonyaji, uakisi, nishati

10. Kipengele cha programu: kulingana na desturi ya wateja, kipengele cha kiolesura cha jaribio kinacholingana kinaweza kubinafsishwa ili kupima upitishaji, unyonyaji na uakisi kamili wa sampuli ya jaribio.

11. Muda wa sampuli: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. Kiwango cha fotometri: 0 ~ 2.5A

13. Ulalo wa Msingi: ± 0.004a (200-2500nm, baada ya kupasha joto kwa dakika 30)

14. Kiolesura cha seva mwenyeji: USB2.0

15. Kipimo (mm): (umbo) 830 * 600 * 260, (chumba cha sampuli) 120 * 240 * 200

16. Vipimo vya sampuli ya jaribio (mm): 30 ~ 110, unene ≤ 20

17. Uzito (kg): kama 65

18. Usanidi wa msingi:

Kipangishi cha spektromita ya UV Vis NIR, kebo ya data ya USB, cuvette ya quartz, kizuizi cha sifuri, programu, zana za usaidizi, n.k. (seti ya vifaa vikali na vifaa vya kioevu ni vya kawaida)

Programu ya mfumo wa majaribio ya macho ya kioo ni ya hiari

*Watumiaji wanahitaji kutoa kompyuta na vichapishi vyao wenyewe

Chaguavifaa vya kitaifa

Zf820-1 vifaa vya kuunganisha duara

Vigunduzi viwili vyenye kipenyo cha Φ 60mm, 380-2500nm

Vifaa vya kupima sampuli thabiti za Zf820-2

Umbali wa lenzi za kubana: kipenyo: Φ 10-36mm; unene: 0.5-10mm

Kifaa cha kupima tafakari cha Zf820-3

Pembe ya tukio ni digrii 5, na wigo wa kuakisi hupimwa

Programu

Programu inayofanya kazi ya kifaa hiki ina kazi nyingi za majaribio na uchambuzi, ambazo zinaweza kupima upitishaji, unyonyaji, nishati na uakisi. Ina kazi za skanning ya wigo, kipimo cha nukta zisizobadilika na kipimo cha urefu wa wimbi nyingi.